德(de)國(guo)E+H料位(wei)計工藝特點(dian)
由(you)於(yu)不(bu)同(tong)的(de)工業生產(chan)過程的(de)特點(dian)不同(tong)，所(suo)以E+H料位(wei)計需針對不(bu)同(tong)的(de)工藝條件(jian)來確(que)定。為了(le)能(neng)夠(gou)更明確(que)地分析(xi)物位(wei)儀表,E+H料位(wei)計的(de)工作(zuo)原(yuan)理(li)、特點(dian)和(he)應用(yong)環(huan)境，必須對物位(wei)測量的(de)工藝要(yao)求進行明(ming)確(que)分析(xi)。
首(shou)先(xian)我(wo)們來分析(xi)E+H料位(wei)計的(de)工藝特點(dian)：
1.E+H料位(wei)計液面(mian)是規則(ze)表(biao)面(mian)。但當液體(ti)流進、流出(chu)時容易產(chan)生波動或生產(chan)過程中出(chu)現起(qi)泡(pao)、沸騰等(deng)變(bian)化時同(tong)樣(yang)也會產(chan)生波動。
2.E+H料位(wei)計容器內(nei)發生有(you)液體(ti)各處密(mi)度(du)、黏(nian)度或溫度等(deng)物理(li)量不(bu)均勻的(de)現象(xiang)。
3.E+H料位(wei)計容器內(nei)發生有(you)高(gao)壓(ya)、高(gao)溫、液體(ti)黏度過大、大量臟汙雜質(zhi)、懸浮物等(deng)。
E+H料位(wei)計固(gu)體物料的(de)物理(li)、化學(xue)性(xing)質(zhi)較復(fu)雜，如(ru)有(you)顆(ke)粒(li)狀(zhuang)的(de)、也有(you)粉(fen)末狀(zhuang)的(de)，並且(qie)有(you)些(xie)介(jie)質(zhi)為大小不均勻的(de)顆粒(li)；固(gu)體物料的(de)含水量變(bian)化、溫度等(deng)也是不(bu)均(jun)勻的(de)變(bian)化；料倉(cang)振動、料倉(cang)形狀(zhuang)不(bu)規則等。
常(chang)見E+H料位(wei)計的(de)優(you)缺(que)點如(ru)下(xia)：
E+H阻(zu)旋式料位(wei)計
優(you)點：較可靠(kao)；
局限(xian)：不耐(nai)用(yong)。
E+H電容(rong)式(shi)料位(wei)計
優(you)點：較耐(nai)用(yong)；
局限(xian)：可靠(kao)性(xing)較差。
E+H永(yong)磁(ci)式料位(wei)計
優(you)點：可(ke)靠(kao)、靈敏(min)、耐(nai)用(yong)；
局限(xian)：安(an)裝時需垂直(zhi)。
E+H超聲(sheng)波物位(wei)計
優(you)點：非接觸(chu)。
局限(xian)：粉(fen)塵影響/凹(ao)凸(tu)面影(ying)響/噪(zao)音(yin)非接觸(chu)式(shi)；
E+H雷(lei)達料位(wei)計
優(you)點：非接觸(chu)。
局限(xian)：介(jie)電(dian)常數(shu)有(you)要(yao)求/粉(fen)塵影響/凹(ao)凸(tu)面影(ying)響；
推(tui)薦：采用(yong)高(gao)發射(she)頻(pin)率(lv)的(de)，四(si)線(xian)制(zhi)的(de)雷(lei)達
E+H導波(bo)雷(lei)達物位(wei)計
優(you)點：對某(mou)個點(dian)的(de)測量。
局限(xian)：介(jie)電(dian)常數(shu)有(you)要(yao)求/掛(gua)料/拉力影(ying)響(xiang)；
E+H激光(guang)物位(wei)計
優(you)點：非接觸(chu)
局限(xian)：粉(fen)塵影響/凹(ao)凸(tu)面影(ying)響
E+H射(she)頻(pin)導納(na)料位(wei)計（電容式料位(wei)計）
優(you)點：點(dian)接觸(chu)
局限(xian)：介(jie)電(dian)常數(shu)有(you)要(yao)求/時漂/溫漂/掛(gua)料/拉力；
推(tui)薦：建議采用(yong)進口的(de)產(chan)品
重錘(chui)式(shi)料位(wei)計：分纜(lan)式(shi)及帶式兩(liang)種(zhong)
優(you)點：直(zhi)接測(ce)量/手動控制
局限(xian)：傳(chuan)統的(de)纜(lan)式(shi)重錘(chui)容(rong)易發生斷錘(chui)/埋錘(chui)/亂繩
推(tui)薦：帶式重錘(chui)
E+H射(she)線(xian)式(shi)料位(wei)計
優(you)點：非接觸(chu)、穩定(ding)
局限(xian)：有(you)汙染/價格(ge)高(gao)
E+H稱重式(shi)料位(wei)計
優(you)點：可(ke)以測量質(zhi)量/體(ti)積(ji)
局限(xian)：抗震(zhen)問(wen)題/物料面(mian)狀(zhuang)況不知(zhi)/價格(ge)高(gao)
E+H料位(wei)計測量工藝
1.E+H料位(wei)計物料自(zi)然堆積(ji)會產(chan)生堆積(ji)傾(qing)斜，所以固(gu)體物料的(de)料面(mian)是(shi)不(bu)平整的(de)，很難(nan)明(ming)確(que)料位(wei)的(de)準確(que)高(gao)度；物料進出時，存在滯(zhi)留(liu)區，影(ying)響(xiang)料位(wei)zui低位(wei)置點的(de)測量。
2.E+H料位(wei)計料鬥(dou)或儲倉(cang)中，固(gu)體物料內(nei)部(bu)易存(cun)在(zai)大的(de)孔隙，形成拱橋。粉(fen)料內(nei)部(bu)易存(cun)在(zai)小的(de)間隙。前者(zhe)影(ying)響(xiang)對物料儲(chu)量的(de)計算，而(er)後者(zhe)則(ze)在(zai)振(zhen)動或溫度、壓(ya)力變(bian)化時使(shi)物位(wei)也隨之(zhi)變(bian)化。
界(jie)面測(ce)量中常(chang)出現(xian)的(de)問題是(shi)界(jie)面(mian)不明確(que)，渾(hun)濁(zhuo)或泡(pao)沫(mo)的(de)存在(zai)會影(ying)響測量結果。此(ci)外(wai)，容器(qi)內(nei)攪拌、管(guan)道(dao)和加熱(re)等(deng)設備(bei)的(de)存在(zai)也會對物位(wei)檢測帶來壹定的(de)影響(xiang)，特別(bie)是像(xiang)雷(lei)達波、超聲(sheng)波這(zhe)些依(yi)賴(lai)回(hui)波(bo)信(xin)號(hao)測(ce)量的(de)物位(wei)儀表。
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